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三民書局
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發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of inventional patent / 張仁平著 ; 國立臺灣大學科際整合法律學研究所編
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本教材乃依序說明專利審查基準總則部分之國際相關法規、審查基準及案例，其內容主要係依據經濟部智慧財產局二○一三年一月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第十一章之內容，於各章中首先列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範，包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約（EPC）、美國、實質專利法條約（SPLT）草案、與貿易有關之智慧財產權協定（TRIPS）與專利合作條約（PCT）等，以
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