資料來源:
三民書局
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發明專利實體審查基準. Guidelines for substantive examination of inventional regulations and case studies / 一, 國際法規與案例彙編 = 張仁平編著 ; 國立臺灣大學科際整合法律學研究所編
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本教材乃依序說明專利審查基準「第一章說明書及圖式」、「第二章何謂發明」、「第三章專利要件」之國際相關法令規範與案例，其內容主要係依據智慧財產局二○○四年七月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第三章之相關內容，列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範，包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約（EPC）、美國、實質專利法條約（SPLT）草案、與貿易有關之智慧財產權協定（TRIPs
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