Mirau顯微干涉儀在厚度及折射率量測之應用 = Thickness and refractive index measurements using mirau interferometric microscope / 林尹豪[撰]

• 作者： 林尹豪 撰
• 出版： [臺北市] : 臺北科技大學 民96[2007]
• 主題： 光電科學
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• 一般註：參考書目:葉43-45 指導教授:林世聰
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